大理石粗糙度平臺(tái)測(cè)試架適用于各種手持式粗糙度儀，為其提供高精度的測(cè)量平臺(tái)和立柱升降系統(tǒng)，可方便地調(diào)整儀器，其效果將大大降低儀器的操作難度，尤其是在測(cè)量高精度零件時(shí)，效果會(huì)更明顯。

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更新時(shí)間：2026-04-02
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大理石粗糙度平臺(tái)測(cè)試架

產(chǎn)品介紹：

粗糙度儀平臺(tái)為便攜式粗糙度測(cè)量?jī)x的主要附件之一，適用于各種手持式粗糙度儀，為其提供高精度的測(cè)量平臺(tái)和立柱升降系統(tǒng)，可方便地調(diào)整儀器，其效果將大大降低儀器的操作難度，尤其是在測(cè)量高精度零件時(shí)，效果會(huì)更明顯。

技術(shù)參數(shù)：

1．升降高度： 200 ± 1 mm ;

2．回程誤差：不大于手輪的1/6圈；

3．測(cè)量平臺(tái)尺寸：260mm×180 mm×20 mm。